Компания Synopsys как ведущий специалист по программным инструментам для проектирования и тестирования полупроводниковых решений играет предельно серьёзную роль в производстве чипов. От качества и производительности инструментов Synopsys зависит так же много, как от всего спектра технологий, необходимых для реализации каждого нового техпроцесса. При этом этап тестирования продукции имеет особенное значение, ведь мало выпустить процессор, необходимо проверить его на отсутствие ошибок задолго до того, как он станет коммерческим продуктом и попадёт в продажу.
Как подсказывают наши коллеги с сайта AnandTech, Synopsys предоставила в руки компании Samsung новую платформу для изучения уровня выхода годной продукции, адаптированную для 7-нм техпроцесса (7LPP, 7 nm low power plus). Платформа Yield Explorer анализирует целый комплекс параметров, начиная с заводской информации о характеристиках конкретных партий кремниевых пластин и производственного оборудования, до анализа дизайна электронных цепей чипов в цифровом виде и в виде готового решения с подключением визуальных данных с кристалла и полученной в ходе тестирования телеметрии.
В дополнение к актуальному и самому передовому 7-нм техпроцессу платформа Synopsys Yield Explorer позволит Samsung ускорять процесс поиска слабых мест в дизайне и при производстве чипов с использованием техпроцессов 10LPE, 10LPP, 8LPP и 8LPU, а также будет широко использоваться в процессе внедрения техпроцессов 5LPE, 4LPE и даже 3GAE. Нетрудно понять, что устранение ошибок на ранних этапах производства ускорит выход новейшей продукции и сделает её дешевле.
Особое внимание при разработке инструмента Yield Explorer уделено безопасности и защите данных. В процессе тестирования дизайна и продукции используется конфиденциальная информация производителя об оборудовании и материалах. Как уверяют в Synopsys, в компании сделали всё возможное, чтобы предотвратить утечку данных.
